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原位高温XRD加热台是专门为高温条件下探测样品物相结构变化而设计的原位样品台，是材料科学领域、能源化学领域等众多研究领域的有力辅助手段之一。该装置采用加热台加热方式，可提供0.1-2.5Mpa的气氛环境，整体水冷系统的设计确保装置的正常运行并不会对光谱仪产生影响。装置加热元件采用银台，并设计有保温结构，能大幅度降低装置的功耗。窗口采用半球状PEEK球或金属铍，用于适用不同的压力环境，对特征峰的采集的影响尽可能的降低。该装置使用宇电仪表进行控温，可设置20段温度控制，测温元件采用PT100或K型热电偶。
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型号
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THT-XRD-500 |
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最高温度
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500℃
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样品尺寸
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φ10*1mm
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装置尺寸
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φ52*47mm
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升温速率
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1℃/min
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功率
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400W
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电压
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AC220V 50/60Hz
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重量
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约0.5kg
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产品型号
原位高温XRD加热台-500-0.1Mpa HT-XRD-500
原位高温XRD加热台-500-2.5Mpa HTP-XRD-500
优势及特点
宇电仪表20段程序控温，精度±1℃；装置整体水冷保证表面温度≤60℃。
USB通讯实时检测并保存温度数据；水、气、电接头快速拔插，使用便捷；装置体积小，适用性更高。
下一个
高温气固红外透射原位池
